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環(huán)境類可靠性試驗(yàn)設(shè)備的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)闡述

日期:2025-04-28 11:44
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摘要: 環(huán)境類可靠性試驗(yàn)設(shè)備的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)闡述,恒溫恒濕試驗(yàn)箱 ,鹽霧測試機(jī),冷熱沖擊試驗(yàn)箱 一、概況 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備設(shè)計(jì)、生產(chǎn)的依據(jù)是環(huán)境試驗(yàn)方法,隨著生產(chǎn)力的進(jìn)步、國民經(jīng)濟(jì)的發(fā)展,環(huán)境試驗(yàn)方法的日臻豐富,相應(yīng)的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備亦隨之日益增多。為了使環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芸煽?、持續(xù)地得到實(shí)施,這就需要有質(zhì)量上乘,性能合格的試驗(yàn)設(shè)備,而要達(dá)到這一要求,就需有一個(gè)統(tǒng)一衡量試驗(yàn)設(shè)備尺度即環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn),以及環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)。 我國的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)(以下簡稱“設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)”)及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)...

環(huán)境類可靠性試驗(yàn)設(shè)備的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)闡述,恒溫恒濕試驗(yàn)箱 ,鹽霧測試機(jī),冷熱沖擊試驗(yàn)箱
一、概況

環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備設(shè)計(jì)、生產(chǎn)的依據(jù)是環(huán)境試驗(yàn)方法,隨著生產(chǎn)力的進(jìn)步、國民經(jīng)濟(jì)的發(fā)展,環(huán)境試驗(yàn)方法的日臻豐富,相應(yīng)的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備亦隨之日益增多。為了使環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芸煽俊⒊掷m(xù)地得到實(shí)施,這就需要有質(zhì)量上乘,性能合格的試驗(yàn)設(shè)備,而要達(dá)到這一要求,就需有一個(gè)統(tǒng)一衡量試驗(yàn)設(shè)備尺度即環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn),以及環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)。 
我國的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)(以下簡稱“設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)”)及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)(以下簡稱“方法標(biāo)準(zhǔn)”)起草、發(fā)布、實(shí)施于二十世紀(jì)八十年代中期。貴公司所要的標(biāo)準(zhǔn)都可以去“國標(biāo)網(wǎng)”上去查一查,那上面有你全部你所需要的資料.我這里就把我們平常的一些參數(shù)供貴公司參考.

二、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn) 
1、現(xiàn)行環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)共有九項(xiàng): 
GB10586-89 濕熱試驗(yàn)箱 技術(shù)條件 
GB10587-89 鹽霧試驗(yàn)箱 技術(shù)條件 
GB10588-89 長霉試驗(yàn)箱 技術(shù)條件 
GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱 技術(shù)條件 
GB10590-89 低溫/低氣壓試驗(yàn)箱 技術(shù)條件 
GB10591-89 高溫/低氣壓試驗(yàn)箱 技術(shù)條件 
GB10592-89 高、低溫試驗(yàn)箱 技術(shù)條件 
GB11158-89 高溫試驗(yàn)箱 技術(shù)條件 
GB11159-89 低氣壓試驗(yàn)箱 技術(shù)條件 
2、設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)中的共性問題 
1)適用范圍 
在上述的九項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)中都明確規(guī)定了本標(biāo)準(zhǔn)適用于生產(chǎn)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的所有廠家,對(duì)該標(biāo)準(zhǔn)所對(duì)應(yīng)的產(chǎn)品在作出廠檢驗(yàn)、型式檢驗(yàn)、質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)時(shí)作為依據(jù)。 
2)適應(yīng)性 
按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)檢測合格的產(chǎn)品,其性能要符合相對(duì)應(yīng)的環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)試驗(yàn)設(shè)備的要求,按其檢驗(yàn)要求檢測合格的產(chǎn)品方可出廠。 
3)操作性 
設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)在貫徹實(shí)施過程中基本能得到貫徹執(zhí)行。同時(shí),該類標(biāo)準(zhǔn)在設(shè)備制造廠也應(yīng)用較多。 
4)修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)的不足之處 
九項(xiàng)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)起草于上世紀(jì)八十年代,隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,工農(nóng)業(yè)及其他待業(yè)的發(fā)展和需求,修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)是必須的。

3、貫徹執(zhí)行過程中的注意事項(xiàng) 
1)對(duì)基本環(huán)境條件的要求,綜合在一起主要有下列幾項(xiàng) 
A)溫度:15℃~35℃ 
B)相對(duì)濕度:不大于85%RH 
C)大氣壓強(qiáng):86Kpa~106Kpa 
D)熱輻射:無陽光起直射,無熱源直接輻射 
E)氣流:無強(qiáng)烈氣流,需要時(shí)不可直接吹到箱體上 
F)電磁場:無強(qiáng)烈電磁場 
G)三廢:無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì) 
H)冷卻水源:水溫不大于30℃,水壓控制在0.1~0.3Mpa 
I)加濕水源:電阻率不低于500Ωm 
J)電源:220±22V 、380±38V、50±0.5Hz 
2)負(fù)載要求: 
A)負(fù)載品種:一般可用電工、電子產(chǎn)品或其它產(chǎn)品、零部件及絕緣材料等(鹽霧試驗(yàn)除外) 
B)負(fù)載條件: 
-------負(fù)載總質(zhì)量:50~80Kg/m3 
-------負(fù)載總體積:不大于工作室容積的1/5 
-------阻擋主風(fēng)道總面積:不大于主風(fēng)道所處工作室截面積的1/3 
-------鹽霧試驗(yàn)設(shè)備:規(guī)格:50*100*(1~2)mm 
-------種類:金屬 
-------樣品數(shù):160塊/m2(工作室水平面面積計(jì))

三、 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)(氣候試驗(yàn)設(shè)備) 
1、現(xiàn)行環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)共有六項(xiàng): 
GB/T5170.2----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備 
GB/T5170.5----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備 
GB/T5170.8----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備 
GB/T5170.9----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備 
GB/T5170.10---1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備 
GB/T5170.11---1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備 
2、方法標(biāo)準(zhǔn)的幾個(gè)共同問題 
1)標(biāo)準(zhǔn)適用范圍:在六項(xiàng)方法標(biāo)準(zhǔn)中明確規(guī)定了該類標(biāo)準(zhǔn)是環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時(shí)檢定項(xiàng)目的確定,檢測儀器的選用,以及檢定條件、測試點(diǎn)數(shù)量、布點(diǎn)位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容的執(zhí)行依據(jù)。 
2)適應(yīng)性:按方法標(biāo)準(zhǔn)檢測合格的設(shè)備,可在規(guī)定期限內(nèi)繼續(xù)進(jìn)行相關(guān)的環(huán)境試驗(yàn)。 
3)操作性:本類標(biāo)準(zhǔn)在環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備使用單位應(yīng)用居多,試驗(yàn)設(shè)備生產(chǎn)廠應(yīng)用為少。 
3、貫徹執(zhí)行過程中的幾個(gè)注意點(diǎn): 
1)各分標(biāo)準(zhǔn)使用時(shí)應(yīng)與總則一起使用。 
2)對(duì)于復(fù)合試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定要若干分標(biāo)準(zhǔn)及總則一起使用 
3)檢定條件:由總則規(guī)定,其內(nèi)容與設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)相一致。 
4)負(fù)載要求:由總則規(guī)定,其內(nèi)容按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)GB11158中規(guī)定保持一致。 
 
四、設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)與檢定方法標(biāo)準(zhǔn)差異辨析

對(duì)照內(nèi)容 設(shè)備標(biāo)準(zhǔn) 方法標(biāo)準(zhǔn) 
適用范圍 產(chǎn)品的出廠檢驗(yàn)及型式檢驗(yàn)與質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn) 試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定 
環(huán)境條件  
具有一致性 
負(fù)載條件 有三項(xiàng)要求(鹽霧試驗(yàn)箱例外) 按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)GB11158中的規(guī)定 
檢驗(yàn)項(xiàng)目 對(duì)生產(chǎn)好的產(chǎn)品進(jìn)行綜合性能檢驗(yàn)(包括標(biāo)志、包裝、儲(chǔ)存) 按試驗(yàn)方法要求對(duì)試驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行檢驗(yàn) 
受檢對(duì)象 生產(chǎn)線上裝配、調(diào)試完成后的產(chǎn)品 外形、結(jié)構(gòu)、標(biāo)志完好控制系統(tǒng)無明顯缺陷、控制精度符合要求**裝置功能正常 
檢驗(yàn)類型 型式檢驗(yàn)、出廠檢驗(yàn)、仲裁檢驗(yàn) 周期檢驗(yàn) 
檢驗(yàn)結(jié)果分類 合格、不合格、批合格、批不合格 合格、準(zhǔn)用、停用 
結(jié)果處理 合格出廠、不合格不準(zhǔn)出廠批不合格、逐臺(tái)檢驗(yàn)質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn),合格續(xù)產(chǎn)不合格停產(chǎn)整頓 合格—發(fā)合格證(或部分合格限使用范圍)
準(zhǔn)用—發(fā)準(zhǔn)用證
停用—發(fā)停用證

 

五、設(shè)備極其參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)與試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)的對(duì)應(yīng)選擇
1、根據(jù)受試產(chǎn)品規(guī)定的試驗(yàn)方法確定環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的種類,現(xiàn)行設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)是一種產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)對(duì)應(yīng)一類設(shè)備,可作多種試驗(yàn)的復(fù)合試驗(yàn)箱需執(zhí)行多個(gè)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)。
2、根據(jù)試驗(yàn)方法要求,對(duì)設(shè)備進(jìn)行周期檢定時(shí),可選用一個(gè)或多個(gè)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)對(duì)試驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行檢定。
3、幾種常用的不同試驗(yàn)方法所需設(shè)備的檢定方法標(biāo)準(zhǔn)

 
試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)  
檢定方法標(biāo)準(zhǔn) 
代號(hào) 名稱 代號(hào) 名稱 
GB2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫 GB5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備 
GB2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫 
GB2423.22 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法 
GB2423.3 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ca:恒定濕熱 GB5170.5 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備 
GB2423.4 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db:交變濕熱 
GB2423.9 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱 
GB2423.16 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)J:長霉 
GB2423.17 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka:鹽霧 GB5170.8 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備 
GB2423.18 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Kb:交變鹽霧 
GB2423.19 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法 Kc:接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn) GB5170.11 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備 
GB2423.20 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法 Kd:接觸點(diǎn)和連接件硫件氫試驗(yàn)方法



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